下载一种半导体晶圆用检测装置的技术资料

文档序号:32950328

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本实用新型涉及半导体晶圆技术领域,且公开了一种半导体晶圆用检测装置,包括底座,所述底座的底部两侧均安装有移动机构,所述底座的顶部安装有升降机构。该半导体晶圆用检测装置,通过固定板、第一滑槽、第一滑块、滑动板、替换膜、第二滑槽、第二滑块、固定...
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