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本实用新型公开了一种用于电子器件老化的测试治具，包括：至少一个电路载板，所述电路载板设有电源接口、以及用于与电子器件匹配的匹配口；以及，容腔，具有第一侧壁，所述第一侧壁开设有容置所述电源接口的第一让位口、以及供所述电路载板滑入的滑槽；所述滑...
该专利属于长芯盛（武汉）科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长芯盛（武汉）科技股份有限公司授权不得商用。

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