一种用于电子器件老化的测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于电子器件老化的测试治具，包括：至少一个电路载板，所述电路载板设有电源接口、以及用于与电子器件匹配的匹配口；以及，容腔，具有第一侧壁，所述第一侧壁开设有容置所述电源接口的第一让位口、以及供所述电路载板滑入的滑槽；所述滑槽沿所述电路载板的滑入方向延伸设置。本实用新型专利技术通过第一侧壁设置容置电源接口的第一让位口，将安装电路载板的滑槽设置在电路载板的滑入方向。便于沿电路载板的滑入方向排布多个电路载板，一方面避免对沿电路载板滑入方向排布的其它电路载板安装时形成干涉；另一方面安装结构简单，有效的节省了空间，使得空间利用更加紧凑，便于在有限的空间内承载更多的电子器件进行测试。测试。测试。

【技术实现步骤摘要】
一种用于电子器件老化的测试治具


[0001]本技术涉及设备
，尤其涉及一种用于电子器件老化的测试治具。

技术介绍

[0002]电子技术是德国、美国等西方国家在十九世纪末、二十世纪初开始发展起来的新兴技术。自1902年，英国物理学家弗莱明专利技术电子管，使得电子产品得到广泛的应用，并迅速地渗透到各行各业中。
[0003]在电子产品在加工过程中，由于经历了复杂的加工和元器件物料的大量使用，无论是加工缺陷还是元器件缺陷，都可分为明显缺陷和潜在缺陷，明显缺陷指那些导致产品不能正常工作的缺陷，例如短路/断路。而潜在缺陷导致产品暂时可以使用，但在使用中缺陷会很快暴露出来，产品不能正常工作。潜在缺陷则无法用常规检验手段发现，而是运用老化的方法来剔除。为了验证电子器件在使用状态下的可靠性，需要对器件进行老化测试。老化测试不仅可以检测出使用状态下的可靠性，还可以了解影响电子器件老化的因素，并且还可以分析出电子器件的老化原因。就目前常规的老化测试治具而言，大部分的老化测试治具承载器件数量少，利用率低下。

技术实现思路

[0004]本技术实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于电子器件老化的测试治具，其特征在于，包括：至少一个电路载板(1)，所述电路载板(1)设有电源接口(11)、以及用于与电子器件(12)匹配的匹配口(13)；以及，容腔，具有第一侧壁(2)，所述第一侧壁(2)开设有容置所述电源接口(11)的第一让位口(21)、以及供所述电路载板(1)滑入的滑槽(22)；所述滑槽(22)沿所述电路载板(1)的滑入方向延伸设置。2.根据权利要求1所述用于电子器件老化的测试治具，其特征在于，所述容腔具有第二侧壁(3)，所述第二侧壁(3)设有支撑部(31)，所述支撑部(31)与所述滑槽(22)相互配合，用于夹持所述电路载板(1)。3.根据权利要求1所述用于电子器件老化的测试治具，其特征在于，所述滑槽(22)设置为阶梯型的多层结构，并且，滑槽(22)的相连层之间错位预设长度，用于所述电路载板(1)插入所述滑槽(22)对应层内，与所述滑槽(22)对应层相耦合。4.根据权利要求1所述用于电子器件老化的测试治具，其特征在于，所述让位口(21)设置为与滑槽(22)相匹配的阶梯型多层结构，所述让位口(21)的层与所述滑槽(22)的层一一对应，并且，所述让位口(21)对应层位于滑槽(22)对应匹配层上方，用于承...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄锦龙，李鸽鸽，高凤，汤迪，谢新明，
申请(专利权)人：长芯盛武汉科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：