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本实用新型公开了光学显微镜领域的一种可实现局部测量的光学显微膜厚设备，包括底板，底板的顶部固定连接有支撑柱，底板的顶部设置有反光镜，支撑柱的表面固定连接有载物台，载物台的内部开设有聚光孔，载物台的一侧设置有膜厚仪，载物台的顶部设置有固定机构...
该专利属于上海仁晶测量技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海仁晶测量技术有限公司授权不得商用。

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