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本实用新型提供一种相变存储单元的测试结构,包括金属布线层,所述金属布线层包括第一金属布线区、第二金属布线区及中间金属布线区,其中,第一金属布线区与相变存储单元连接,第二金属布线区通过金属接触通孔引出,且中间金属布线区中具有金属绕线结构,且金...该专利属于长江先进存储产业创新中心有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过长江先进存储产业创新中心有限责任公司授权不得商用。
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本实用新型提供一种相变存储单元的测试结构,包括金属布线层,所述金属布线层包括第一金属布线区、第二金属布线区及中间金属布线区,其中,第一金属布线区与相变存储单元连接,第二金属布线区通过金属接触通孔引出,且中间金属布线区中具有金属绕线结构,且金...