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本发明涉及一种光学检测领域，特别涉及一种半导体自动光学检测领域。所述方法采集被测物体的二维图像，定位出所述二维图像中基准元件与待测元件所在位置，根据所述基准元件与待测元件位置，采集所述被测物体三维图像，根据所述三维图像，得到所述基准元件与待...
该专利属于深圳明锐理想科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳明锐理想科技有限公司授权不得商用。

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