温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供一种芯片内干扰测试方法，其包括步骤：搭建测试环境，将第一低噪声放大器的输入端连接至第一元器件的的第一端，第一低噪声放大器的输出端连接至矢量网络分析仪的第二探测通道端口；并将第二低噪声放大器的输入端连接至矢量网络分析仪的第一探测通道...
该专利属于深圳飞骧科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳飞骧科技股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。