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本发明涉及一种IC测试装置，包括检测平台和测试机构，测试机构包括水平驱动系统、竖直驱动系统和测试压头。竖直驱动系统包括固定架、竖直电机、竖直丝杆、竖直螺母和压杆，固定架固定在水平驱动系统上，竖直丝杆沿竖直方向设置且可转动地安装于固定架上，竖...
该专利属于杭州长川科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州长川科技股份有限公司授权不得商用。

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