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本发明公开了一种掩模台垂向测量工装及掩模台垂向测量方法,该掩模台垂向测量工装包括:支撑座、测试支座、两个传感器支架和多个传感器,测试支座设置在支撑座上,两个传感器支架分别设置在测试支座两侧,且两个传感器支架均与测试支座连接,多个传感器分别设...该专利属于上海微电子装备(集团)股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海微电子装备(集团)股份有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种掩模台垂向测量工装及掩模台垂向测量方法,该掩模台垂向测量工装包括:支撑座、测试支座、两个传感器支架和多个传感器,测试支座设置在支撑座上,两个传感器支架分别设置在测试支座两侧,且两个传感器支架均与测试支座连接,多个传感器分别设...