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一种光学系统的经济公差分析方法、装置、设备和存储介质制造方法及图纸
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下载一种光学系统的经济公差分析方法、装置、设备和存储介质的技术资料
文档序号:32833768
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本发明实施例提供的一种光学系统的经济公差分析方法、装置、设备和存储介质,首先确定待分析结构的参数公差,再基于参数公差运用泰勒公式确定畸变函数,以确定在参数公差变化时,畸变的变化情况;然后利用光学系统基于物方确定灵敏度系数,求解出泰勒公式展开...
该专利属于长春理工大学所有,仅供学习研究参考,未经过长春理工大学授权不得商用。
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