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本实用新型提供一种基于固态纳米孔阵列的测序芯片，该芯片由下至上依次包括：硅基片、第一电介质层、第二电介质层及若干个电极，第一电介质层与第二电介质层的材料不同；硅基片中形成有若干个贯穿其的独立样品腔；第一电介质层中形成有若干个贯穿其的纳米孔；...
该专利属于上海近观科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海近观科技有限责任公司授权不得商用。

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