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本公开提供了一种数据分析方法及装置、电子设备、存储介质，涉及半导体技术领域。该数据分析方法包括：获取晶圆组对应的目标良率问题堆叠图形，并获取晶圆组在不同类型测试下的量测数据堆叠图形；将目标良率问题堆叠图形与量测数据堆叠图形进行图形匹配，得到...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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