下载一种半导体开关器件测试装置的技术资料

文档序号:32754007

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

本实用新型提供了一种半导体开关器件测试装置,包括第一开关器件、母线电容、电感、电源支路、放电支路和续流支路;电源支路的第一端通过第一开关器件分别连接至母线电容的第一端和放电支路的第一端,母线电容的第二端与电源支路的第二端电连接,放电支路的第...
该专利属于合肥恒钧检测技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过合肥恒钧检测技术有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。