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一种半导体开关器件测试装置制造方法及图纸
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下载一种半导体开关器件测试装置的技术资料
文档序号:32754007
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本实用新型提供了一种半导体开关器件测试装置,包括第一开关器件、母线电容、电感、电源支路、放电支路和续流支路;电源支路的第一端通过第一开关器件分别连接至母线电容的第一端和放电支路的第一端,母线电容的第二端与电源支路的第二端电连接,放电支路的第...
该专利属于合肥恒钧检测技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过合肥恒钧检测技术有限公司授权不得商用。
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