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本发明公开了一种用于半导体真空阀门真空测试的装置，属于半导体测试领域，本发明设置在真空阀门上，真空阀门的前壁、后壁上设置有前气孔、后气孔，装置包括前密封板、后密封板、前真空连接转换管、后真空连接转换管，前密封板的中心位置设有与前气孔连通的前...
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