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使用具有相互不同频率的时钟信号的测试电路制造技术
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下载使用具有相互不同频率的时钟信号的测试电路的技术资料
文档序号:32654046
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本申请案涉及一种使用具有相互不同频率的时钟信号的测试电路。本文中公开一种设备,所述设备包含:串联耦合的第一和第二移位寄存器电路,所述第一和第二移位寄存器电路配置成与时钟信号同步地执行触发信号的移位操作;和时钟控制电路,其配置成当所述触发信号...
该专利属于美光科技公司所有,仅供学习研究参考,未经过美光科技公司授权不得商用。
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