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本发明属于破片速度测试技术领域，涉及一种用于测试复杂环境下破片速度衰减规律的试验装置。该装置包括腔体、导轨、测速架、测试腔、隔板、缓冲腔、圆环螺母、入口膜片、前密封端盖、接口、温度控制器、湿度控制器、后密封端盖、破片阻滞箱、固定螺钉、锁扣、...
该专利属于北京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学授权不得商用。

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