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本发明公开了一种CCD图像传感器光敏阵列的LVS版图检查方法，包括步骤：按照工艺加工要求，完成光敏单元版图绘制，并按照电路设计要求，将光敏单元按照产品要求的像素排列进行布局，形成版图阵列；根据工艺层次定义及电子流动方向，绘制版图阵列的电路原...该专利属于中国兵器工业集团第二一四研究所苏州研发中心所有，仅供学习研究参考，未经过中国兵器工业集团第二一四研究所苏州研发中心授权不得商用。