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本发明提供了一种利用日照光源测量地外天体样本取样量的方法，利用日照光源照射到样本容器上，所述样本容器附近设有可移动的相机，通过相机拍摄样本容器的外观及其内壁的影像，获得采样样品在样本容器中的高度，结合样本容器本身的尺寸结构，通过计算得到采样...
该专利属于香港理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过香港理工大学授权不得商用。

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