【技术实现步骤摘要】
一种利用日照光源测量地外天体样本取样量的方法
[0001]本专利技术属于深空探测领域，尤其涉及一种利用日照光源测量地外天体样本取样量的方法。
技术介绍
[0002]太空探索任务往往需要高昂的预算，加上运输火箭的承载力有限，载荷的设计需严格控制重量。其中，地外天体采样返回的任务对所有系统有更严苛的重量要求，所以各系统除结构外，电、通讯的资源类使用量亦需极致地优化。采样返回任务的主要目的，是从月球、火星、小行星等的地外天体进行采样并将样本带返地球。这类任务均会对采样量定下目标，采样机构、容器及封装机构都会跟据此目标设计采样量和容器最高的样本收集量。当采样机构的每次最大采样量低于样本容器的最大收集量，样本容器的设计就需考虑能够估算或测量容器满载度的功能。地面人员在采样操作进行期间，通过此功能对采样量进行准确评估，务求在保持高安全度、高可靠度的状态下将样本的返回量最大化。在缺乏对满载度有准确评估的情况下，样本容器有机会出现满载、溢载的状态，导致无法对容器进行封装，威胁整个任务的成败。所以，测量容器满载度是重要的功能，而一个重量轻和资...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种利用日照光源测量地外天体样本取样量的方法，其特征在于，其包括：利用日照光源照射到样本容器上，所述样本容器附近设有可移动的相机，通过相机拍摄样本容器的外观及其内壁的影像，获得采样样品在样本容器中的高度，结合样本容器本身的尺寸结构，通过计算得到采样量。2.根据权利要求1所述的利用日照光源测量地外天体样本取样量的方法，其特征在于：所述样本容器的内壁的粗糙度Ra值为不小于0.8。3.根据权利要求2所述的利用日照光源测量地外天体样本取样量的方法，其特征在于：所述样本容器的内壁设有若干环状的纹路。4.根据权利要求3所述的利用日照光源测量地外天体样本取样量的方法，其特征在于：所述若干环状的纹路在车削加工过程中生成。5.根据权利要求4所述的利用日照光源测量地外天体样本取样量的方法，其特征在于：所述样本容器采用机械加工工艺一体成型。6.根据权利要求1～5任意一项所述的利用日照光源测量地外天体样本取样量的方法，其特征在于：所述计算包括如下步骤：采用如下公式计算得到样本容器内采样样品的顶部在样本容器内的半径b：其中，α为相对于采用容器底...
【专利技术属性】
技术研发人员：容启亮，高瑞文，关福延，林浩一，
申请(专利权)人：香港理工大学，
类型：发明
国别省市：
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