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半导体器件的导通压降测量电路制造技术
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文档序号:32641212
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本发明提供一种半导体器件的导通压降测量电路,包括:钳位电路、开关电路、稳压电路以及差分放大电路;所述钳位电路的输入端与待测MOSFET的漏极连接,所述待测MOSFET的源极接地,所述钳位电路的输出端与所述开关电路以及所述差分放大电路连接,所...
该专利属于中南大学所有,仅供学习研究参考,未经过中南大学授权不得商用。
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