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本实用新型公开了一种芯片测试装置及芯片烧录器，能够提高芯片调试的灵活性。该芯片测试装置包括：第一负载调节模块，用于连接芯片，第一负载调节模块能够调整芯片的内部运放的输入电路负载。第二负载调节模块，用于连接芯片，第二负载调节模块能够调整芯片的...
该专利属于中山市晶威电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中山市晶威电子科技有限公司授权不得商用。

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