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本实用新型公开了一种硅基液晶芯片的测试装置，包括：依次设置在入射光光路上的第一准直器、检偏器、复合透镜以及硅基液晶(LCOS)芯片，入射光经所述第一准直器、所述检偏器和所述复合透镜到达所述LCOS芯片，所述LCOS芯片用于对所述入射光进行偏...
该专利属于武汉光迅科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉光迅科技股份有限公司授权不得商用。

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