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本发明提供一种微波探针S参数相位的确定方法、装置、终端及存储介质。该方法包括:采用校准后的矢量网络分析仪,在微波探针的探针尖端分别测量在片开路校准件、在片短路校准件以及在片负载校准件的S参数,得到在片开路校准件、在片短路校准件以及在片负载校...该专利属于中国电子科技集团公司第十三研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国电子科技集团公司第十三研究所授权不得商用。
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本发明提供一种微波探针S参数相位的确定方法、装置、终端及存储介质。该方法包括:采用校准后的矢量网络分析仪,在微波探针的探针尖端分别测量在片开路校准件、在片短路校准件以及在片负载校准件的S参数,得到在片开路校准件、在片短路校准件以及在片负载校...