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本发明公开了一种晶体振荡器的性能检测方法，包括如下步骤：(a)包夹；(b)转送；(c)检测；(d)逐个操作。本发明前后分步有序，互不干扰，自动高效，逐个排查，不容易出错，省力便捷，降低了人工劳动强度和成本，有效固定晶体振荡器，可进行连续化检...
该专利属于绍兴奥美电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过绍兴奥美电子科技有限公司授权不得商用。

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