温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开一种碳化硅沟槽结构及其制造方法和半导体器件,其中碳化硅沟槽结构的制造方法包括:在碳化硅基片的表面形成第一掩膜层;在第一掩膜层上形成具有预设图案的光刻胶层;以光刻胶层为掩膜,对第一掩膜层进行第一刻蚀形成开口,开口暴露出碳化硅基片的表...该专利属于北京北方华创微电子装备有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京北方华创微电子装备有限公司授权不得商用。
温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开一种碳化硅沟槽结构及其制造方法和半导体器件,其中碳化硅沟槽结构的制造方法包括:在碳化硅基片的表面形成第一掩膜层;在第一掩膜层上形成具有预设图案的光刻胶层;以光刻胶层为掩膜,对第一掩膜层进行第一刻蚀形成开口,开口暴露出碳化硅基片的表...