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非易失性存储器单元、非易失性存储器单元阵列和非易失性存储器单元阵列的信息写入方法技术
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文档序号:32508170
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该非易失性存储器单元由变化电阻型的非易失性存储器元件50和选择晶体管TR来构造,其中非易失性存储器元件50的一端连接到选择晶体管TR的一个源极/漏极区域15A并且连接到写入线WR,而选择晶体管TR的另一个源极/漏极区域15B连接到选择线SL...
该专利属于索尼半导体解决方案公司所有,仅供学习研究参考,未经过索尼半导体解决方案公司授权不得商用。
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