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用于ELEMENTGD辉光放电质谱检测的少量易碎样品的测前处理方法技术
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下载用于ELEMENTGD辉光放电质谱检测的少量易碎样品的测前处理方法的技术资料
文档序号:32497373
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本发明公开了一种用于ELEMENT GD辉光放电质谱检测的少量易碎样品的测前处理方法,首先将待测样品超声洗净,使用气体吹干,然后选择坩埚进行熔料,该熔料过程在石英管中进行通入惰性气体防止氧化,温度为高于待测样品熔点温度,保证其充分融化停止加...
该专利属于昆明理工大学所有,仅供学习研究参考,未经过昆明理工大学授权不得商用。
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