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一种高频下测量金属薄膜电导率的装置及方法，属于导体高频交流电阻测量技术领域。本发明是为了解决现有的陶瓷金属化表面的金属薄膜在高频交流电的电导率测量方法测量过程困难，无法准确的测量出不同工艺下的陶瓷金属化表面的金属薄膜的电导率的问题。本发明的...
该专利属于天津大学所有，仅供学习研究参考，未经过天津大学授权不得商用。

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