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本发明提供一种半导体版图的监控方法及系统，该半导体版图的监控方法包括建立一个监控半导体版图的数据模型，数据模型包括多个金属层的数据信息，且每个金属层的数据信息包括第一类型金属层信息和第二类型金属层信息；输入版图数据，并依据版图数据设定所需监...
该专利属于合肥晶合集成电路股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥晶合集成电路股份有限公司授权不得商用。

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