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本发明公开了一种电子元器件寿命预测方法，它包括：收集批次元器件输入的测试数据、元器件贮存环境数据、寿命试验数据和特性测试数据，得到寿命预测的数据源；将寿命预测的数据源数据进行数据融合，得到数据融合数据文件；得到干净结构化数据文件；利用主成分...
该专利属于贵州航天计量测试技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过贵州航天计量测试技术研究所授权不得商用。

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