一种电子元器件寿命预测方法技术

技术编号:32463075 阅读:20 留言:0更新日期:2022-02-26 08:56
本发明专利技术公开了一种电子元器件寿命预测方法,它包括:收集批次元器件输入的测试数据、元器件贮存环境数据、寿命试验数据和特性测试数据,得到寿命预测的数据源;将寿命预测的数据源数据进行数据融合,得到数据融合数据文件;得到干净结构化数据文件;利用主成分分析法对元器件数据进行降维,利用核独立成分提取元器件数据的非线形特征获得元器件的特征参数;模型构建:建立BP神经网络预测模型;通过权值初始化,训练数据集,并验证数据集指标;检测是否到达预测精度,未达到预测精度则进行参数调整返回模型训练;测试集数据输入训练好的模型得到预测结果;解决了现有技术对电子元器件寿命预测中受限于寿命预测的成本及时间等计算问题。题。题。

【技术实现步骤摘要】
一种电子元器件寿命预测方法


[0001]本专利技术属于电子元器件寿命预测技术,尤其涉及一种电子元器件寿命预测方法。

技术介绍

[0002]电子元器件是航天装备的重要组成部件,其质量的可靠性和稳定性可能决定航天产品的成败。对电子元器件进行寿命预测,对于制定寿命试验的规划,合理地确定所需的试验时间及经费,都有十分重要的指导作用。
[0003]目前元器件质量及可靠性保证业务主要依赖于传统试验检测技术,即“一事一议”式小子样试验测试鉴定技术,通过对每类元器件、每个规格、每生产批次的试验测试,如外观检查、筛前初测、温度冲击、密封性检查、X射线检查、振动、冲击、应力、DPA、老化筛选等,落实型号的质量保证要求。在当前多型号任务并行研制、高强度发射的新环境下,传统试验测试技术手段承受了越来越大的效率与成本压力,如任务周期耗时、耗工、耗料,跟不上快节奏研制需求;测试数据没有集中存储、统筹利用,业务价值无法挖掘;业务过程严重依赖人工处理,数据质量引用不便、过程追溯困难、处理效率低下等。
[0004]数目前的寿命预测中,常用的方法有Beyes方法。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子元器件寿命预测方法,它包括:步骤1、数据收集:收集批次元器件输入的测试数据、元器件贮存环境数据、寿命试验数据和特性测试数据,得到寿命预测的数据源;步骤2、数据融合:将寿命预测的数据源数据进行数据融合,得到数据融合数据文件;步骤3、数据清洗:得到干净结构化数据文件;步骤4、特征提取:利用主成分分析法对元器件数据进行降维,利用核独立成分提取元器件数据的非线形特征获得元器件的特征参数;步骤5、模型构建:建立BP神经网络预测模型;步骤6、模型训练:通过权值初始化,训练数据集,并验证数据集指标;步骤7、模型参数调整:检测是否到达预测精度,未达到预测精度则进行参数调整返回步骤6;步骤8、测试集数据输入训练好的模型得到预测结果。2.根据权利要求1所述的一种电子元器件寿命预测方法,其特征在于:步骤1所述寿命预测的数据源包括:元器件批次号、日期、序列号、贮存温度、湿度、标称电压、标称电容、大小、测试电压、评价、电性能参数及电性能参数公差元数据。3.根据权利要求1所述的一种电子元器件寿命预测方法,其特征在于:步骤3所述数据清洗:得到干净结构化数据文件的方法包括:步骤3.1、构建基于孤立森林(isolation forest IF)的异常数据识别模型;首先对已知且连续时间的数据集进行随机划分,然后通过利用异常数据和正常数据的差异性实现准确的识别;步骤3.2、数据经过IF模型计算后形成不同的密度区域,通过计算数据异常值评分反映数据所在密度区域,并对异常数据进行剔除;步骤3.3、异常数据经过剔除后形成不同的数据缺失,根据缺失数据的分布不同将缺失数据划分为间断数据缺失模式、连续数据缺失模式和水平数据缺失模式进行缺失值处理;处理方法为通过Ar...

【专利技术属性】
技术研发人员:魏自强班元郎王文玺
申请(专利权)人:贵州航天计量测试技术研究所
类型:发明
国别省市:

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