下载用于光学表面缺陷材料特性化的方法及系统的技术资料

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本文中描述用于基于来自样本的暗场散射相位而检测缺陷并对所述缺陷进行分类的方法及系统。在一些实施例中,通过用同一光学系统检测缺陷并对所述缺陷进行分类来增加吞吐量。在一个方面中,基于从集光光瞳中至少两个空间上相异的位置收集的经散射光的所测量相对...
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