专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
科磊股份有限公司
>
用于光学表面缺陷材料特性化的方法及系统技术方案
>技术资料下载
下载用于光学表面缺陷材料特性化的方法及系统的技术资料
文档序号:32445244
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本文中描述用于基于来自样本的暗场散射相位而检测缺陷并对所述缺陷进行分类的方法及系统。在一些实施例中,通过用同一光学系统检测缺陷并对所述缺陷进行分类来增加吞吐量。在一个方面中,基于从集光光瞳中至少两个空间上相异的位置收集的经散射光的所测量相对...
该专利属于科磊股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过科磊股份有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。