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本发明公开了一种针对芯片的多路自动化测试装置和方法，装置包括主控单元、电源模块、静电检测电路、天线开/短路检测电路、电平检测电路，静电检测电路、天线开/短路检测电路和电平检测电路均与所述主控单元电连接，主控单元、静电检测电路、天线开/短路检...
该专利属于郑州中科集成电路与系统应用研究院所有，仅供学习研究参考，未经过郑州中科集成电路与系统应用研究院授权不得商用。

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