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本申请涉及光电探测领域，具体涉及一种光电探测器。该光电探测器包括第一电极层、第二电极层、设于第一电极层和第二电极层之间的热释电材料层，其中，热释电材料层的靠近第二电极层的表面设有金属纳米颗粒。利用该光电探测器可实现对低强度光的检测，提高检测...
该专利属于北京纳米能源与系统研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京纳米能源与系统研究所授权不得商用。

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