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本发明公开了一种对安装在测试卡上的探针进行表面处理的方法，该方法主要是在测试卡上的探针在使用前或使用后，通过将探针表面进行镀膜处理，于探针表面形成覆膜，该覆膜材质依需求不同可为金属或合金或非金属材质，从而使探针可修补，并减少探针表明的附着异...
该专利属于王志忠;吕文裕所有，仅供学习研究参考，未经过王志忠;吕文裕授权不得商用。

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