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一种用于测试半导体器件的处理机的测试托盘，其能够降低更换载座模块所需花费的成本和时间，并可获得提高的可使用性。测试托盘包括：框架；槽体，安装到框架上同时彼此均匀地隔开，每一个槽体均包括座体，在该座体上容纳有半导体器件；卡锁，安装到框架上，以...
该专利属于未来产业株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过未来产业株式会社授权不得商用。

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