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金属硅化物制作中的选择性离子注入预非晶化方法,是PMOS场效应晶体管中进行应变源漏的硅锗外延生长后,通过对硅锗外延生长的区域进行离子注入预非晶化,使其在形成金属硅化物过程中的反应温度降低,从而与硅及多晶硅的形成金属硅化物的反应温度接近或一致...该专利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中芯国际集成电路制造(上海)有限公司授权不得商用。
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金属硅化物制作中的选择性离子注入预非晶化方法,是PMOS场效应晶体管中进行应变源漏的硅锗外延生长后,通过对硅锗外延生长的区域进行离子注入预非晶化,使其在形成金属硅化物过程中的反应温度降低,从而与硅及多晶硅的形成金属硅化物的反应温度接近或一致...