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半导体存储器中形成图案的方法技术
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文档序号:3233659
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一种在半导体存储器中形成图案的方法,其中在形成于半导体衬底上的目标层上,形成以第一间隔布置的第一间隔物以及以第二间隔布置的第二间隔物。形成掩模图案,以覆盖两个相邻的第二间隔物所界定的目标层的部分。使用第一间隔物、第二间隔物及掩模图案来作为蚀...
该专利属于海力士半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过海力士半导体有限公司授权不得商用。
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