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基于负微分迁移率的平面纳米电磁辐射器结构制造技术
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文档序号:3233003
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本发明公开了一种基于负微分迁移率的平面纳米电磁辐射器结构,其由下往上依次包括绝缘衬底、具负微分迁移率的有源层及绝缘保护层,有源层的两侧还分别设有侧面电极,该有源层包括位于有源层左右两端的低电阻区域、位于有源层中间的电场强度分布不均匀的高电阻...
该专利属于中山大学所有,仅供学习研究参考,未经过中山大学授权不得商用。
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