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一种晶片测试装置，包括：一底座，设有固定座，并架设导引构件；一本体架设于导引构件，依导引移动，一升降座套接于本体上下移动，一驱动元件固设于本体，校正驱动升降座上移设定距离；一置物构件固设于升降座，其定位槽内置放晶片；一检测构件设于置物构件上...
该专利属于陈文杰所有，仅供学习研究参考，未经过陈文杰授权不得商用。

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