【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种仪器领域测量、测试中的测试装置，特别是涉及一种驱动元件逐次驱动升降座、使晶片接触基板，经储存使其可重复启动驱动元件移动、测试晶片的晶片测试装置。现有习用的晶片在封装之前必须先经过测试其接线是否正常，即所谓裸测程度，早期裸测大都是一般习见的IC晶粒，在制作完成后即装入一凹字型固定模内，以便送至测试基板上做测试工作，然而此一工作传统上皆是藉由人力以手工的程序来做测试，故十分耗费时间与人力，使整个测试工作相当缓慢，因此也影响生产效率。近来有一种机器测试装置，其是以一机台上架设马达驱动一升降座，该升降座上设有一槽座供置放一晶片，一检测构件架设于该机台，并位于该升降座上方适当高度，该检测构件上固接一基板，利用启动马达驱动该升降座向上移动到定位停止，该升降座上的槽座置放该晶片接触基板的检测区，以进行测试该晶片。然而该晶片接触该基板的检测区的位置、必须控制相当精密，所以马达驱动该升降座向上移动到定位停止亦必须很精密，但是马达连续驱动，其从驱动状态要到停止要有一段缓冲区段，所以需要在上升的区间设置一感测元件，以侦测该升降座向上移动到设定位置，该感测元件产生讯号...
【技术保护点】
一种晶片测试装置，设有驱动元件及控制器，其特征在于其主要包括：一底座，其上设有一固定座，其上架设有一导引构件；一本体，架设于该导引构件，并呈依导引方向移动的结构，一升降座套接于该本体，形成可上下移动的结构，一驱动元件固设于该本体，该 驱动元件每启动一次移动一单位距离，且该驱动元件校正驱动该升降座上移动设定距离；一置物构件，固设于该升降座，其上设有一定位槽，该定位槽内置放一晶片；一检测构件，设置位于置物构件的上侧，且架设于该固定座上，该检测构件架设有一基板，该基板 设有一测试座；上述结构相组合构成晶片测试装置，其本体在置物构件置放晶片，移动到测试区...
【技术特征摘要】
1.一种晶片测试装置，设有驱动元件及控制器，其特征在于其主要包括一底座，其上设有一固定座，其上架设有一导引构件；一本体，架设于该导引构件，并呈依导引方向移动的结构，一升降座套接于该本体，形成可上下移动的结构，一驱动元件固设于该本体，该驱动元件每启动一次移动一单位距离，且该驱动元件校正驱动该升降座上移动设定距离；一置物构件，固设于该升降座，其上设有一定位槽，该定位槽内置放一晶片；一检测构件，设置位于置物构件的上侧，且架设于该固定座上，该检测构件架设有一基板，该基板设有一测试座；上述结构相组合构成晶片测试装置，其本体在置物构件置放晶片，移动到测试区定位...
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