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本发明涉及一种适用于压接式功率半导体器件的测试装置。其包括测试架体、器件测试抽屉组、压力测量装置以及测试升降驱动机构；通过测试升降驱动机构使得器件测试抽屉组内所有相邻的器件测试抽屉相互接触配合，对任意两个相互接触配合的器件测试抽屉，位于上方...
该专利属于山东阅芯电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过山东阅芯电子科技有限公司授权不得商用。

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