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本申请涉及一种MBIST电路、驱动芯片、电子设备及测试方法，属于集成电路技术领域。该MBIST电路在接收到测试指令信号时，向存储器输入进行MBIST测试所需的ADR地址信号、测试数据以及时序信号，并将写入待测试地址的测试数据和存储器从待测试...
该专利属于成都利普芯微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都利普芯微电子有限公司授权不得商用。

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