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本申请提供了一种介质空间中天线性能评估方法、装置及电子设备，涉及天线测试技术领域，包括：获取待测天线所在第一介质空间的电磁参数；根据第一介质空间的电磁参数，利用电磁相似条件，匹配一个与第一介质空间具有电磁相似的第二介质空间以及相似天线；获取...
该专利属于青岛大学所有，仅供学习研究参考，未经过青岛大学授权不得商用。

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