一种介质空间中天线性能评估方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本申请提供了一种介质空间中天线性能评估方法、装置及电子设备，涉及天线测试技术领域，包括：获取待测天线所在第一介质空间的电磁参数；根据第一介质空间的电磁参数，利用电磁相似条件，匹配一个与第一介质空间具有电磁相似的第二介质空间以及相似天线；获取在第二介质空间中测试得到的相似天线的天线参数；利用电磁相似问题的对应关系，基于相似天线的天线参数，得到第一介质空间中待测天线的天线参数。本申请能够解决对介质空间内部天线难以进行性能评估的技术问题。行性能评估的技术问题。行性能评估的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
一种介质空间中天线性能评估方法、装置及电子设备


[0001]本申请涉及天线测试
，尤其涉及一种介质空间中天线性能评 估方法、装置及电子设备。

技术介绍

[0002]目前，介质内部天线的性能评估通常采用介质空间直接测试，或者在 实验室搭建小型有限介质空间来模拟无限大或半无限大介质空间进行测 试。但是，在介质空间内部直接测试天线的方法存在测试环境恶劣、测试 操作复杂、测试时间长造价昂贵、测试数据不稳定等不足，比如在海水、 地下矿井测试天线，需要将天线和测试设备运送到海上、矿井等测试现 场。而在实验室有限介质空间测试天线，比如用水池模拟海洋，模拟介质 空间的尺寸远小于实际介质空间，水池的有限边界条件与海洋的无限远边 界条件有很大差别，对于天线的工作频率比较低的情况，在有限尺寸模拟 介质空间测试的天线性能与实际介质空间的天线性能差别较大。因此这两 种测试方法均存在一定的局限性。
[0003]目前也有采用相似性原理，从相似问题的天线性能来评估原问题天线 性能的方法，即缩比模型方法(参考文献[1]:时振栋.有耗电磁系统的相似 性[J].应用科本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种介质空间中天线性能评估方法，其特征在于，包括：获取待测天线所在第一介质空间的电磁参数；根据第一介质空间的电磁参数，利用电磁相似条件，匹配一个与第一介质空间具有电磁相似的第二介质空间以及相似天线；获取在第二介质空间中测试得到的相似天线的天线参数；利用电磁相似问题的对应关系，基于相似天线的天线参数，得到第一介质空间中待测天线的天线参数。2.根据权利要求1所述的介质空间中天线性能评估方法，其特征在于，若第一介质空间无介质极化损耗和磁化损耗，则获取的第一介质空间的电磁参数包括：介电常数ε1，ε1为实数，磁导率μ1，μ1为实数，电导率σ1、空间坐标(x1,y1,z1)，角频率ω1，电流密度电场矢量和磁场矢量3.根据权利要求2所述的介质空间中天线性能评估方法，其特征在于，若第一介质空间无介质极化损耗和磁化损耗，第二介质空间的电磁参数包括：介电常数ε2，ε2为实数，磁导率μ2，μ2为实数，电导率σ2，空间坐标(x2,y2,z2)，角频率ω2，电流密度电场强度矢量和磁场强度矢量则第二介质空间和第一介质空间满足电磁相似条件，包括：第一介质空间和第二介质空间的坐标单位矢量方向一致，空间尺寸具有比例关系：x2＝k
l
x1，y2＝k
l
y1，z2＝k
l
z
1111
其中，k
l
、k
E
和k
H
均为比例系数。4.根据权利要求1所述的介质空间中天线性能评估方法，其特征在于，若第一介质空间有介质极化损耗和磁化损耗，则获取的第一介质空间的电磁参数包括：介电常数ε1＝ε1′‑
jε1″
，ε1′
为ε1的实部，ε1″
为ε1的虚部，ε1″
表征第一介质空间的电极化损耗；磁导率μ1＝μ1′‑
jμ1″
，μ1′
为μ1的实部，μ1″
为μ1的虚部，μ1″
表征第一介质空间的磁化损耗；电导率σ1、空间坐标(x1,y1,z1)，角频率ω1，电流密度电场矢量和磁场矢量5.根据权利要求4所述的介质空间中天线性能评估方法，其特征在于，若第一介质空间
有介质极化损耗和磁化损耗，第二介质空间的电磁参数包括：介电常数ε2＝ε2′‑
jε2″
，ε2′
为ε2的实部，ε2″
为ε2的虚部，ε2″
表征第二介质空间的电极化损耗；磁导率μ2＝μ2′‑
jμ2″
，μ2...

【专利技术属性】
技术研发人员：宗卫华，
申请(专利权)人：青岛大学，
类型：发明
国别省市：