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一种半导体器件管腿外观检验模具，其特征在于：所述的模具包括一个基座（１），在基座（１）的两端分别固定有管腿沉浮测量卡具（２）、管腿间距测量卡具（３），在卡具（２）的端面上开有一通长的凹槽Ｔ，凹槽的深度等于被测器件管腿厚度及管腿沉浮最大允许量...
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