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本发明公开了一种实时时钟芯片的测试系统及其方法，包括电路测试板、频率计、高低温测试箱；所述电路测试板包括微控制器与时钟芯片测试位；所述微控制器用于读取待测时钟芯片内置温度传感器的温度值并控制待测时钟芯片调整内置晶体负载电容值，控制待测时钟芯...
该专利属于深圳市兴威帆电子技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市兴威帆电子技术有限公司授权不得商用。

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