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一种集成电路弯脚检测装置，用以检测经过封装且具有复数个接脚的集成电路，包括至少一载座，其表面设有复数个插孔分别与上述接脚相对应，并在接脚与插孔相结合时将集成电路容置于该载座上；其特征是： 上述载座插孔的设计孔径Ｄ↓［ｈ］依据公式Ｄ↓［...
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