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本申请公开了一种芯片的测试工装，包括载物台，所述载物台上形成有定位部和对准标记，所述定位部用于定位待测试的芯片、并使所述芯片的光口裸露，所述对准标记用于测试设备与位于所述定位部上的所述芯片进行水平位置校准；以及偏转器，所述偏转器用于改变光束...
该专利属于武汉邮电科学研究院有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉邮电科学研究院有限公司授权不得商用。

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