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本申请是关于一种屏幕缺陷分类方法、电子设备及存储介质。该屏幕缺陷分类方法包括：对输入的屏幕缺陷图像进行预处理，得到缺陷样本图像，预处理包括：滤波、阈值分割、缺陷面积和边缘分析、尺度调整和降采样。缺陷样本图像包括缺陷ROI区域，缺陷样本图像的...
该专利属于高视科技（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过高视科技（苏州）有限公司授权不得商用。

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